【IC磁鐵pct老化試驗(yàn)箱安全裝置：】
 

　　1、鍋內(nèi)安全裝置：鍋門(mén)若未關(guān)緊則機(jī)器無(wú)法啟動(dòng)。
 

　　2、安全閥：當(dāng)鍋內(nèi)壓力超過(guò)Zui大工作值自動(dòng)排氣泄壓。
 

　　3、雙重過(guò)熱保護(hù)裝置：當(dāng)鍋內(nèi)溫度過(guò)高時(shí)，機(jī)器嗚叫警
 

　　4、報(bào)并自動(dòng)切斷加熱電源。
 

　　5、門(mén)蓋保護(hù)：ABS材質(zhì)制成可防止操作人員接觸Tang傷。
 

　　所發(fā)布的各款試驗(yàn)設(shè)備價(jià)格僅為象征性的展示價(jià)格,不能作為實(shí)際Cheng交價(jià),實(shí)際價(jià)格以艾思荔業(yè)務(wù)員根據(jù)客戶的要求所做的報(bào)價(jià)單為準(zhǔn).
 

　　【IC磁鐵pct老化試驗(yàn)箱試驗(yàn)?zāi)康模?strong>】
 

　　1、加速壽命試驗(yàn)的目的是提高環(huán)境應(yīng)力(如：溫度、與工作應(yīng)力(施加給產(chǎn)品的電壓、負(fù)荷.等)，加快試驗(yàn)過(guò)程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗(yàn)時(shí)間。
 

　　2、用于調(diào)查分析何時(shí)出現(xiàn)電子元器件，和機(jī)械零件的摩耗和使用壽命的問(wèn)題，使用壽命的故障分佈函數(shù)呈什么樣的形狀，以及分析失效率上升的塬因所進(jìn)行的試驗(yàn)。
 

　　3、隨著半導(dǎo)體可靠性的提高，目前大多半導(dǎo)體器件能承受長(zhǎng)期的THB試驗(yàn)而不會(huì)產(chǎn)生失效，因此用來(lái)確定成品質(zhì)量的測(cè)試時(shí)間也相應(yīng)增加了許多。為了提高試驗(yàn)效率、減少試驗(yàn)時(shí)間，採(cǎi)用了Zui新的壓力蒸煮鍋試驗(yàn)方法。壓力蒸煮鍋試驗(yàn)方法主要分成兩種類型：即PCT和USPCT(HAST)現(xiàn)在壓力蒸煮鍋試驗(yàn)作為濕熱加速試驗(yàn)被IEC(電工委員會(huì))所標(biāo)準(zhǔn)化。注意事項(xiàng)：USPCT現(xiàn)在稱為HAST(高度加速應(yīng)力試驗(yàn))。
 

　　【IC磁鐵pct老化試驗(yàn)箱:特點(diǎn)：】www.lhsyl.com/
 

　　1、具有自動(dòng)加水功能并且在試驗(yàn)過(guò)程中水位過(guò)低時(shí)自動(dòng)補(bǔ)水。
 

　　2、試驗(yàn)過(guò)程自動(dòng)運(yùn)轉(zhuǎn)至完成結(jié)束，使用簡(jiǎn)便。
 

　　3、溫度控制：LED數(shù)字型溫度控制器可作Jing確試驗(yàn)溫度之設(shè)定、控制及顯示。
 

　　4、計(jì)時(shí)器：LED數(shù)字型計(jì)時(shí)器，當(dāng)鍋內(nèi)溫度到達(dá)后才開(kāi)始計(jì)時(shí)以確保試驗(yàn)*。
 

　　5、精準(zhǔn)的壓力/溫度表隨時(shí)顯示鍋內(nèi)壓力與相對(duì)溫度。
 

　　6、運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)流水器自動(dòng)排出未飽和蒸氣以達(dá)到Zui佳蒸氣品質(zhì)。
 

　　7、一體成型硅膠門(mén)墊圈，氣密度良好，且使用壽命長(zhǎng)。
 

　　8、試驗(yàn)箱內(nèi)經(jīng)拋光處理經(jīng)久耐用美觀不沾污。
 

　　24小時(shí)客戶服務(wù):如果您對(duì)冷熱沖擊試驗(yàn)箱，氙燈老化試驗(yàn)箱，HAST非飽和老化試驗(yàn)箱，步入式恒溫恒濕試驗(yàn)室等設(shè)備感興趣或有需求的話，請(qǐng)致電，我們將為您提供滿意的答復(fù)！艾思荔——您企業(yè)貼心的實(shí)驗(yàn)室測(cè)試設(shè)備規(guī)劃顧問(wèn)。